Pérez Acle, Julio Dalmiro

DATOS PERSONALES Y ACADÉMICOS

Grado y Servicio
Grado 4 / Facultad de Ingenieria /

Contacto
Email: julio@fing.edu.uy / Teléfono: 099 399035

Área disciplinar
Tecnológica

Disciplina / Subdisciplina
Electrónica digital / Sistemas embebidos / Test y Tolerancia a fallas

Mayor nivel académico
Maestría, Universidad de la República (año 2005)

Link a web personal
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Link a CVUY
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Pertenece al SNI
No pertenece

Pertenece al PEDECIBA
No pertenece

DATOS DEL PROYECTO DE DEDICACIÓN TOTAL

Título del Plan de Actividades
Test y tolerancia a fallas para sistemas embebidos

Palabras clave
sistemas embebidos, lógica programable, FPGA, dependabilidad, tolerancia a fallas, in-field test

Resumen Publicable
El problema: las fallas y sus consecuencias.Sistemas de diferente tipo (un automóvil, un lavarropas, un programa para gestionar el funcionamiento de un banco) están expuestos a fallas (por errores de diseño, por roturas, etc.) que provocan efectos no deseados o impiden que el sistema cumpla correctamente con su función. En algunos sistemas esto no importa demasiado, en otros puede costar mucho dinero (el ejemplo del banco) o poner en peligro la vida o la salud de seres humanos (el automóvil, un marcapasos).Los medios para atacar este problema.Existen numerosas técnicas para convivir con este problema: a) hacer las cosas de forma que haya la menor cantidad posible de fallas (prevención), b) detectar cuando ocurre una y tomar medidas para corregirla, c) que el sistema proporcione un resultado correcto aunque haya alguna falla (tolerancia). En general estas técnicas implican algún tipo de redundancia (hacer las cuentas dos o tres veces y comparar, hacer la prueba del nueve, llevar una rueda auxiliar) que tienen algún costo asociado en velocidad de operación (si repito las cuentas hago menos cuentas por minuto), en tamaño del equipo que tengo que comprar (la rueda auxiliar) o en energía para que funcione el sistema (de nuevo la rueda).En esta investigación se trabaja con técnicas para tolerancia a fallas de sistemas embebidos en chips de lógica programable y con énfasis en un tipo de fallas en particular (single event upsets o SEUs). Ese tipo de fallas son intermitentes y cambian el valor de datos almacenados en memoria. Son muy comunes en equipos que están expuestos a radiación, como un satélite o partes de una central nuclear, y pueden aparecer incluso en condiciones normales a medida que se reducen las dimensiones internas de los circuitos integrados.

Grado y Fecha de Ingreso al RDT
Grado 3 / Desde: 2007-09-01

Programa: Científico Proveniente del Exterior
El cargo NO se enmarca en este programa

Participa de Grupo Autoidentificado
Grupos: 17

Observaciones
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DOCUMENTACIÓN ADJUNTA

Curriculum Vitae
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Último informe de renovación
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Producción Académica
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